1,微电子材料与器件专业 跟 电子元器件失效分析 哪个好就业方向是什么

个人补充建议:电子元器件失效分析偏重于国企,如果有门路,可以选择;否则就业面偏窄.还是结合家庭背景\针对性提升个人能力,没背景的话只能自己打拼了,选第一个可能更 实际一些

微电子材料与器件专业 跟 电子元器件失效分析 哪个好就业方向是什么

2,电子元器件失效分析

一般的仪器都会一点点的误测率,但既然有五道测试,基本可以消除这种误测,否则就说明你的仪器实在太烂啦!然后就是自动挑选机的问题,有没有误动作的可能性,最好找一个比较大的不良品样本,对机器进行测试。如果上面两项都没有问题,那说明运输和贮存可能初相了问题,当然半导体器件受环境因素的影响是比较小的。最后就有可能是客户和你们的仪器有一定差距,从而造成这种情况。当然还有一种情况,就是本身半导体器件质量有问题,漏电测试是反向加电压,可能就是在测试的过程中器件被击穿的。解决的办法还是要等真正的原因查找出来再说了。

电子元器件失效分析

3,电子元器件失效分析方法知多少

典型电子元器件失效分析方法1、微分析法 (1)肉眼观察是微分析技术的第一步,对电子元器件进行形貌观察线系及其定位失准等,必要时还可以借助仪器,例如:扫描电镜和透射电子显微镜等进行观察; (2)其次,我们需要了解电子元器件制作所用的材料、成分的深度分布等信息。而AES、SIMS和XPS仪器都能帮助我们更好的了解以上信息。不过,在作AES测试时,电子束的焦斑要小,才能得到更高的横向分辨率; (3)最后,了解电子元器件衬底的晶体取向,探测薄膜是单晶还是多晶等对其结构进行分析是一个很重要的方面,这些信息主要由XRD结构探测仪来获取。 2、光学显微镜分析法 进行光辐射显微分析技术的仪器主要有立体显微镜和金相显微镜。将其两者的技术特点结合使用,便可观测到器件的外观、以及失效部位的表面形状、结构、组织、尺寸等。亦可用来检测芯片击穿和烧毁的现象。此外我们还可以借助具有可提供明场、暗场、微干涉相衬和偏振等观察手段的显微镜辅助装置,以适应各种电子元器件失效分析的需要。 3、红外显微分析法 与金相显微镜的结构相似,不同的是红外显微镜是利用近红外光源,并采用红外变像管成像,利用此工作原理不用对芯片进行剖切也能观察到芯片内部的缺陷及焊接情况。 红外显微分析法是针对微小面积的电子元器件,在对不影响器件电学特性和工作情况下,利用红外显微技术进行高精度非接触测温方法,对电子元器件失效分析都具有重要的意义。 4、声学显微镜分析法 电子元器件主要是由金属、陶瓷和塑料等材料制成的,因此声学显微镜分析法就是基于超声波可在以上这些均质传播的特点,进行电子元器件失效分析。此外,声学显微镜分析法最大的特点就是,能观察到光学显微镜无法看到的电子元器件内部情况并且能提供高衬度的检测图像。以上是几种比较常见的典型电子元器件失效分析方法,电子元器件失效直都是历久弥新的话题,而对电子元器件失效分析是确定其失效模式和失效机理的有效途径之一,对电子元器件的发展具有重要的意义。

电子元器件失效分析方法知多少


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