1，STM32可不可以使用8M的有源晶振呢

可以。通常外接晶振8M，通过PLL倍频到72M。如果想直接使用8M晶振，需要将PLL设置为盘路模式
用示波器测量，电容一般取20-30pf。 晶体振荡器是指从一块石英晶体上按一定方位角切下薄片

STM32可不可以使用8M的有源晶振呢

2，stm32对外部nand flash的大小有没有限制

有限制，你可以查看技术手册，上面有说明外部flash的地址可以使用的范围。
请教关于stm32f429上同时外扩sdram和nandflash的问题 : sdram和nand flash硬件上没有任何冲突 nand flash的片选和sram的ne1,ne2有冲突

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3，stm32时钟源为外部晶体误差典型是多少ppm

常规的有15PPM,25PPM，看设计电路需求，20PPM，50PPM，普通晶振精度如果要求高一般是10PPM，30PPM这个是不一定的。通常情况下对晶振的精度都是指晶振在常温下的频率准确度，计算方法就是实际频率与标称频率的差值再除以频率的百万分之一，得出
不明白啊 = =！

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4，stm32可以不需要外部8m的晶振吗

STM32内部有RC震荡器，可以自己提供时钟，但是没有外接晶振提供的时钟精准，所以如果你的设计不需要太精准的时钟的话，可以不用外部的晶振。
您好，晶振不起振的原因是多方面的。比如参数方面，您选用的精度以及负载不符合要求。质量方面，选购的质量不达标。使用方面，安装错误等等。-
可以。通常外接晶振8m，通过pll倍频到72m。如果想直接使用8m晶振，需要将pll设置为盘路模式

5，stm32的系统时钟初始化中的使用外部晶振的话要对CR置1为什么是

如果是RCC->CR = 0X00010000，这样虽然对那个位设置为1，但是其他位都被清零了，这样你的设置还算正确吗？如果用RCC->CR |= 0X00010000，这是逻辑OR操作，把对应的位设置1但没有影响其他位，这算不算正确？ 举个例子，假设一个8位变量Z=0x35，现在要把最高位设置为1，那么结果X应该是0xB5，如果你只是简单的Z=0x80的话，那结果就是Z真的变成0x80了；但如果是Z|=0x80，那就得到正确的结果。

6，如何测量stm32外部晶振8m 配多大电容

用示波器测量，电容一般取20-30pf。晶体振荡器是指从一块石英晶体上按一定方位角切下薄片（简称为晶片），石英晶体谐振器，简称为石英晶体或晶体、晶振；而在封装内部添加IC组成振荡电路的晶体元件称为晶体振荡器。其产品一般用金属外壳封装，也有用玻璃壳、陶瓷或塑料封装的。
这个你去看手册，去电气特性里面找，比如下面这个是stm32f060c6，写着5-20。像有的103是5-25以上，电容是是有计算步骤的，虽然20、22pf用的可能比较多，你看看你的是什么型号然后去找对应的原理图做参考。stm32有很多种，是有区别的。电容不能随便用
我就是做晶振这块的，你这个说的不太清楚哦，外部晶振本身也带有负载电容的，而晶振两端也是有匹配电容的，那么你想说的是哪个呢？你可电135，1025，3227我给你详细解答一下这个问，而且电路板上还涉及到寄生电容的问题。

7，stm32f407vgt6外部晶振多大

手册上有范围，大概是8M~30M，数值记不清，只要范围内都可以。
ic的好坏测试　　一、不在路检测　　这种方法是在ic未焊入电路时进行的，一般情况下可用万用表测量各引脚对应于接地引脚之间的正、反向电阻值，并和完好的ic进行 较。　　二、在路检测　　这是一种通过万用表检测ic各引脚在路（ic在电路中）直流电阻、对地交直流电压以及总工作电流的检测方法。这种方法克服了代换试验法需要有可代换ic的局限性和拆卸ic的麻烦，是检测ic最常用和实用的方法。　　2.直流工作电压测量　　这是一种在通电情况下，用万用表直流电压挡对直流供电电压、外围元件的工作电压进行测量；检测ic各引脚对地直流电压值，并与正常值相 较，进而压缩故障范围， 出损坏的元件。测量时要注意以下八 ：　　（1）万用表要有足够大的内阻， 少要大于被测电路电阻的10倍以上，以免造成较大的测量误差。　　（2）通常把各电位器旋到中间位置，如果是电视机，信号源要采用标准彩条信号发生器。　　（3）表笔或探头要采取防滑措施。因任何瞬间短路都容易损坏ic。可采取如下方法防止表笔滑动：取一段自行车用气门芯套在表笔尖上，并长出表笔尖约0.5mm左右，这既能使表笔尖良好地与被测试点接触，又能有效防止打滑，即使碰上邻近点也不会短路。　　（4）当测得某一引脚电压与正常值不符时，应根据该引脚电压对ic正常工作有无重要影响以及其他引脚电压的相应变化进行分析， 能判断ic的好坏。　　（5）ic引脚电压会受外围元器件影响。当外围元器件发生漏电、短路、开路或变值时，或外围电路连接的是一个阻值可变的电位器，则电位器滑动臂所处的位置不同，都会使引脚电压发生变化。　　（6）若ic各引脚电压正常，则一般认为ic正常；若ic部分引脚电压异常，则应从偏离正常值最大处入手，检查外围元件有无故障，若无故障，则ic很可能损坏。　　（7）对于动态接收装置，如电视机，在有无信号时，ic各引脚电压是不同的。如发现引脚电压不该变化的反而变化大，该随信号大小和可调元件不同位置而变化的反而不变化，就可确定ic损坏。　　（8）对于多种工作方式的装置，如录像机，在不同工作方式下，ic各引脚电压也是不同的。　　3.交流工作电压测量法　　为了掌握ic交流信号的变化情况，可以用带有db插孔的万用表对ic的交流工作电压进行近似测量。检测时万用表置于交流电压挡，正表笔插入db插孔；对于无db插孔的万用表，需要在正表笔串接一只0.1～0.5μf隔直电容。该法适用于工作频率 较低的ic，如电视机的视频放大级、场扫描电路等。由于这些电路的固有频率不同，波形不同，所以所测的数据是近似值，只能供参考。　　4.总电流测量法　　该法是通过检测ic电源进线的总电流，来判 ic好坏的一种方法。由于ic内部绝大多数为直接耦合，ic损坏时（如某一个pn结击穿或开路）会引起后级饱和与截止，使总电流发生变化。所以通过测量总电流的方法可以判 ic的好坏。也可用测量电源通路中电阻的电压降，用欧姆定律计算出总电流值。　　测判三极管的口诀　　三极管的管型及管脚的判别是电子技术初学者的一项基本功，为了帮助读者迅速掌握测判方法，笔者总结出四句口诀：“三颠倒，找基极；pn结，定管型；顺箭头，偏转大；测不准，动嘴巴。”下面让我们逐句进行解释吧。　　一、 三颠倒，找基极　　大家知道，三极管是含有两个pn结的半导体器件。根据两个pn结连接方式不同，可以分为npn型和pnp型两种不同导电类型的三极管。　　测试三极管要使用万用电表的欧姆挡，并选择r×100或r×1k挡位。对于指针式万用电表有，其红表笔所连接的是表内电池的负极，黑表笔则连接着表内电池的正极。假定我们并不知道被测三极管是npn型还是pnp型，也分不清各管脚是什么电极。测试的 第一步是判断哪个管脚是基极。这时，我们任取两个电极（如这两个电极为1、2），用万用电表两支表笔颠倒测量它的正、反向电阻，观察表针的偏转角度；接着，再取1、3两个电极和 2、3两个电极，分别颠倒测量它们的正、反向电阻，观察表针的偏转角度。在这三次颠倒测　　量中，必然有两次测量结果相近：即颠倒测量中表针一次偏转大，一次偏转小；剩下一次必 然是颠倒测量前后指针偏转角度都很小，这一次未测的那只管脚就是我们要寻找的基极。　　二、 pn结，定管型　　找出三极管的基极后，我们就可以根据基极与另外两个电极之间pn结的方向来确定管子的导电类型。将万用表的黑表笔接触基极，红表笔接触另外两个电极中的任一电极，若表头指针偏转角度很大，则说明被测三极管为npn型管；若表头指针偏转角度很小，则被测管即为pnp型。　　三、 顺箭头，偏转大　　找出了基极b，另外两个电极哪个是集电极c，哪个是发射极e呢？这时我们可以用测穿透电流iceo的方法确定集电极c和发射极e。　　（1）对于npn型三极管，由npn型三极管穿透电流的流向原理，用万用电表的黑、红表笔颠倒测量两极间的正、反向电阻rce和rec，虽然两次测量中万用表指针偏转角度都很小，但仔细观察，总会有一次偏转角度稍大，此时电流的流向一定是：黑表笔→c极→b极→e极→红表笔，电流流向正好与三极管符号中的箭头方向一致，所以此时黑表笔所接的一定是集电极c，红表笔所接的一定是发射极e。　　（2）对于pnp型的三极管，道理也类似于npn型，其电流流向一定是：黑表笔→e极→b极　　→c极→红表笔，其电流流向也与三极管符号中的箭头方向一致，所以此时黑表笔所接的一 定是发射极e，红表笔所接的一定是集电极c。　　四、 测不出，动嘴巴　　若在“顺箭头，偏转大”的测量过程中，若由于颠倒前后的两次测量指针偏转均太小难以区分时，就要“动嘴巴”了。具体方法是：在“顺箭头，偏转大”的两次测量中，用两只手分别捏住两表笔与管脚的结合部，用嘴巴含住（或用舌头抵住）基电极b，仍用“顺箭头，偏转大”的判别方法即可区分开集电极c与发射极e。其中人体起到直流偏置电阻的作用，目的是使效果更加明显。

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