芯片测试解决方案:SOT芯片封装特点及适用场景。SOT芯片老化测试插座SOT89/353/363/323/223/263等系列老化测试插座用于测试密度高、体积小的IGBT、MOSFET等功能集成电路,该测试台支持SOT89/353/363/323/223/263系列IC,其规格包括绝缘阻抗、耐压、接触阻抗、额定电流和工作温度。
选择时,启动NMOS晶体管:约30V70A DFN5*6或3*3推荐:台湾省东源FKBB3072DFN3*3DCDC降压芯片:输出5V2A3A,输入耐压35V推荐:台湾省裕泰ETA2805E8AESOP8LDO:5V200mA,输入耐压30V推荐:上海贝岭BL8078CC3BTR33SOT。
SOT23系列芯片老化测试台支持igbtmosfet和其他功能SOT23是一种表贴封装,用于封装晶体管、二极管、调节器和放大器等小型元件。适配器厂商推荐CR6863P启辰微SOT 23-630-65W次级PWM适配器方案。启辰微1-300W功率段都有合适的型号。
恒流线性恒流LED驱动芯片NU501-1AXXX系列电流选择:NU501-1A010(恒流10ma sot 23-3)nu 501-1a 015(恒流15ma sot 23-3)nu 501-1a 020(恒流20ma sot 23-3)nu 501-1a 025(恒流25ma sot 23-3)nu 501-1a 030(恒流30mASOT23-3)NU501-1A120((恒流120毫安时89)nu 501-1a 150((恒流150毫安时89)nu 501-1a 240(恒流240毫安时89)nu 501-1a 280(恒流280毫安时89)nu 501-1a 300(恒流300毫安时89。
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